- ellipsometer
-
an instrument that uses polarized light to investigate the surface layers of semiconductor wafers etc. Used in ellipsometry.
Wikipedia foundation.
Wikipedia foundation.
Ellipsometer — elipsometras statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Spektrometras, kuriame yra poliarizacijos prizmės ir fazės vėlinimo plokštelės; naudojamas elipse poliarizuotai šviesai tirti. atitikmenys: angl. ellipsometer vok.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
ellipsometer — elipsometras statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Spektrometras, kuriame yra poliarizacijos prizmės ir fazės vėlinimo plokštelės; naudojamas elipse poliarizuotai šviesai tirti. atitikmenys: angl. ellipsometer vok.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
Ellipsometer — elipsometras statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. ellipsometer vok. Ellipsometer, n rus. эллипсометр, m pranc. ellipsomètre, m … Fizikos terminų žodynas
ellipsometer — elipsometras statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. ellipsometer vok. Ellipsometer, n rus. эллипсометр, m pranc. ellipsomètre, m … Fizikos terminų žodynas
Ellipsometer — Die Ellipsometrie ist ein Messverfahren der Materialforschung und der Oberflächenphysik, mit dem Real und Imaginärteil der komplexen dielektrischen Funktion (oder Real und Imaginärteil der komplexen Brechzahl) und/oder die Schichtdicke dünner… … Deutsch Wikipedia
ellipsometer — /i lip som i teuhr, el ip , ee lip /, n. Optics. an instrument that measures the ellipticity of polarized light, used for determining the thickness of thin films. [ELLIPSE + O + METER] * * * … Universalium
ellipsometer — el·lip·som·e·ter … English syllables
ellipsometer — ə̇ˌlipˈsäməd.ə(r), eˌ , ēˌ , ˌe(ˌ) noun Etymology: ellipse + o + meter : a polarimeter designed especially for determining the ellipticity of polarized light * * * /i lip som i teuhr, el ip , ee lip /, n. Optics. an instrument that measures the… … Useful english dictionary
Ellipsometry — is a versatile and powerful optical technique for the investigation of the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. It has applications in many different fields, from semiconductor physics to… … Wikipedia
elipsometras — statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Spektrometras, kuriame yra poliarizacijos prizmės ir fazės vėlinimo plokštelės; naudojamas elipse poliarizuotai šviesai tirti. atitikmenys: angl. ellipsometer vok. Ellipsometer, n rus.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas