nanoworld
Look at other dictionaries:
Scanning tunneling microscope — Image of reconstruction on a clean Gold(100) surface … Wikipedia
Microscopio de efecto túnel — Imagen de reconstrucción sobre una superficie limpia de oro (100) … Wikipedia Español
Atomic force microscope — The atomic force microscope (AFM) or scanning force microscope (SFM) is a very high resolution type of scanning probe microscope, with demonstrated resolution of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction… … Wikipedia
Feature-oriented scanning — (FOS)[1][2][3] is a method intended for high precision measurement of nanotopography as well as other surface properties and characteristics on a scanning probe microscope (SPM) using features (objects) of the surface as reference points of the… … Wikipedia
ООСЗМ — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Объектно-ориентированное сканирование — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Feature-oriented positioning — (FOP)[1][2] is a method of precise movement of the scanning microscope probe across the surface under investigation. With this method, surface features (objects) are used as reference points for microscope probe attachment. Actually, FOP is a… … Wikipedia
Michael Gross (science writer) — Michael Gross (born 1963) is a science writer based at Oxford and an honorary research fellow at the School of Crystallography, Birkbeck, University of London. Biography He holds a degree in chemistry and a doctorate in natural sciences, both… … Wikipedia
ВСИ — Встречное сканирование (ВС)[1] способ измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, позволяющий исправлять искажения растра, возникающие в результате дрейфа зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС… … Википедия
Объектно-ориентированное позиционирование — Особенность ориентированное позиционирование (ООП)[1] метод прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности поверхности используются в качестве опорных точек (точек привязки зонда).… … Википедия
